電気電子工学科の木本教授が九州地方発明表彰において大分県知事賞を受賞しました


公益財団法人発明協会主催の令和2年度九州地方発明表彰において、電気電子工学科の木本教授の研究チームが、大分県知事賞を受賞しました。
本表彰は、優れている特許技術を表彰するもので、株式会社デンケンと共同開発しているIC外観検査装置の検査システムの特許技術が高く認められました。

受賞タイトル:AI画像検査装置(特許第6630912号)
http://koueki.jiii.or.jp/hyosho/chihatsu/R2/jusho_kyushu/index.html

開発したIC外観検査装置の概要は以下の研究室紹介を参照してください。
http://ee.oita-ct.ac.jp/staff/kimoto

木本智幸 教授







Copyright oita-ct.ac.jp All Rights Reserved.